Z-Ser(Tos)-OMe, 98.5%
 Z-Ser(Tos)-OMe
別名:  
Cas號: 1492-52-0 物化性質(zhì):  
分子式: C19H21NO7S 熔點:  
分子量: 407.45 

儲存條件: -20°C 

1.Z-Ser(Tos)-OMeX射線熒光光譜分析儀 （XRF）主要用于測試無機物表面元素及其含量（半定量）X射線。X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。Z-Ser(Tos)-OMe其測試范圍是由9號元素（F）到92號元素（U）。

2.電感耦合等離子光譜發(fā)生儀（ICP）ICP為原子化器的原子熒光光譜儀.這類儀器不采用單色器，以ICP為中心，在周圍安裝多個檢測單元(每一元素配一個檢測單元),形成了多元素分析系統(tǒng)。國標常用該儀器測定金屬及礦物質(zhì)中元素含量。

3.Z-Ser(Tos)-OMe紫外可見光譜 （uv）紫外和可見光譜（ultraviolet and visible spectrum)簡寫為UV。  它可廣泛應用于無機分析、有機分析、生化分析等學科研究領(lǐng)域。